Flukiger R., Silva E., Spina T., Loria R., Anzellini S., Meneghini C., Irifune T., Schiesaro I., Torchio R.
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, high pressure processing, X-ray irradiation, microstructure, measurement technique
Larbalestier D.C., Grovenor C.R., Tarantini C., Kametani F., Lee P.J., Balachandran S., Su Y., Moody M.P., Heald S.M., Wheatley L.
Zignani C.F., Messina G., Morici L., Tomassetti G., Lampasi A., Zito P., Ala G., Lopes C.R., Zizzo G.
Ключевые слова: Tokamak, LTS, Nb3Sn, magnets, coils toroidal, design, quench protection, discharge characteristics
Zenobio A.D., Chiarelli S., Bruzzone P., Stepanov B., Turtu S., Muzzi L., Corato V., Marzi G.D., Corte A.D., Zignani C.F., Affinito L., Kumar M., Bragagni A., Seri M., Roveta G., Roveta M., Freda R., Anemona A., Sedlak K., Formichetti A., Righetti R., Galignano S., Arabi M., Merli L., Molino G.
Sedlak K., Anvar V.A., Bagrets N., Biancolini M.E., Bonifetto R., Bonne F., Boso D., Brighenti A., Bruzzone P., Celentano G., Chiappa A., D'Auria V., Dan M., Decool P.*10, Corte A.D., Dembkowska A.*11, Dicuonzo O., Duran I.*12, Eisterer M.*13, Ferro A., Zignani C.F., Fietz W.H., Frittitta C., Gaio E., Giannini L., Giorgetti F., Gomory F.*14, Granados X.*15, Guarino R., Heller R., Hoa C., Ivashov I.*16, Jiolat G.*10, Jirsa M.*17, Jose B.*10, Kembleton R.*18, Kumar M., Lacroix B.*10, Coz Q.L.*19, Lewandowska M.*11, Maistrello A., Misiara N.*10, Morici L., Muzzi L., Nicollet S.*10, Nijhuis A., Nunio F.*10, Portafaix C.*10, Romanelli G., Sarasola X., Savoldi L., Stepanov B., Tiseanu I.*20, Tomassetti G., Torre A.*10, Turtщ S., Uglietti D., Vallcorba R.*10, Viererbl L.*21, Vojenciak M.*14, Vorpahl C.*18, Weiss K., Wesche R., Wolf M.J., Zani L.*10, Zanino R., Zappatore A., Corato V.
Ferdeghini C., Eisterer M., Vaglio R., Putti M., Bernini C., Calatroni S., Bellingeri E., Holleis S., Bernardi J., Leveratto A., Saba A., Himmerlich M., Henrist B., Fernandez-Pena S., Moros A.
Chaud X., Larbalestier D.C., Tarantini C., Ballarino A., Lee P.J., Falorio I., Barth C., Segal C., Zurita A.C.
Malagoli A., Ferdeghini C., Mancini A., Vannozzi A., Celentano G., Braccini V., Putti M., Manfrinetti P., Pallecchi I., Bernini C., Bellingeri E., Leveratto A., Sylva G., Lisitskiy M., Manca N., Provino A.
Ключевые слова: chalcogenide, FeSeTe, coated conductors, buffer layers, texture, thickness dependence, RABITS process, substrate Hastelloy, substrate Ni-W, X-ray diffraction, microstructure, resistive transition, magnetic field dependence, critical caracteristics, Jc/B curves, critical temperature, upper critical fields
Siri A.S., Vignolo M., Bernini C., Bovone G., Bernardi J., Moros A., Capra M., Loria F., Stoger-Pollach M., Schachinger T.
Grasso G., Ferdeghini C., Siri A.S., Hopkins S.C., Putti M., Vignolo M., Morawski A., Bernini C., Ballarino A., Tropeano M., Gajda D., Cetner T., Bovone G., Capra M., Loria F.
Larbalestier D.C., Tarantini C., Kametani F., Lee P.J., Balachandran S., Starch W.L., Su Y., Walker B.
Malagoli A., Ferdeghini C., Vannozzi A., Celentano G., Hopkins S.C., Braccini V., Putti M., Ballarino A., Bellingeri E., Sylva G., Lunt A.
Ключевые слова: FeSeTe, coated conductors, substrate metallic, texture, X-ray diffraction, microstructure, composition, distribution, fabrication, experimental results
Ferdeghini C., Braccini V., Putti M., Ghigo G., Gozzelino L., Pallecchi I., Pace S., Grimaldi G., Leo A., Nigro A., Martinelli A., Bellingeri E., Torsello D., Sylva G., Pellegrino L.
Larbalestier D.C., Tarantini C., Hellstrom E.E., Jiang J., Jaroszynski J., Abraimov D., Brown M.D., Bradford G.
Malagoli A., Ferdeghini C., Chiarelli S., Celentano G., Hopkins S.C., Putti M., Ballarino A., Leveratto A., Leoncino L.
Ключевые слова: HTS, Bi2212, wires multifilamentary, fabrication, mechanical treatment, measurement technique, critical caracteristics, Jc/B curves, length, homogeneity
Ferdeghini C., Mancini A., Rufoloni A., Vannozzi A., Celentano G., Braccini V., Putti M., Augieri A., Bellingeri E., Sylva G.
Ключевые слова: chalcogenide, FeSeTe, coated conductors, RABITS process, template layers, fabrication, substrate Ni-W, X-ray diffraction, PLD process, microstructure, buffer layers, texture, resistivity, temperature dependence, magnetic field dependence, upper critical fields, irreversibility fields, critical caracteristics, Jc/B curves, pinning force
Bruzzone P., Stepanov B., Uglietti D., Augieri A., Muzzi L., Corato V., Marzi G.D., Corte A.D., Zignani C.F., Sedlak K.
Larbalestier D.C., Tarantini C., Lee P.J., Balachandran S., Choi E.S., Starch W.L., Heald S.M., Paudel N.
Turtu S., Muzzi L., Corato V., Corte A.D., Zignani C.F., Messina G., Affinito L., Bonifetto R., Morici L., Anemona A., Savoldi L., Zappatore A., Righetti R., Giannini L., Romanelli G., Zoboli L., Zanino A.Z.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.